Physikalische Modellierung mikrospektroskopischer Messungen zur Charakterisierung von optischen Schichtsystemen

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Start date : 01.05.2021

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Probing crystal axis orientation of birefringent materials via polarized microspectroscopy and anisotropic optical modeling (2026) Schwarz J, Bauer J, Ghazal R, Schrotz AM, Rommel M, Hutzler A Journal article, Original article Modellierung mikrospektroskopischer Reflektanz- und Transmittanzmessungen zur Brechungsindex-Bestimmung (2025) Bauer J Thesis Modeling the partially detected backside reflectance of transparent substrates in reflectance microspectroscopy (2025) Schwarz J, Dick J, Beuer S, Rommel M, Hutzler A Journal article Spectro-Spatial Unmixing in Optical Microspectroscopy for Thickness Determination of Layered Materials (2025) Schwarz J, Niebauer M, Römling L, Pham A, Kolesnik-Gray M, Evanschitzky P, Vogel N, et al. Journal article Analyse und Modellierung mikrospektrometrischer Messungen an Dünnschichtsystemen unter Einsatz von Polarisationsoptiken (2024) Ghazal R Thesis Correlating Optical Microspectroscopy with 4×4 Transfer Matrix Modeling for Characterizing Birefringent Van der Waals Materials (2023) Schwarz J, Niebauer M, Kolesnik-Gray M, Szabo M, Baier L, Chava P, Erbe A, et al. Journal article Systemübergreifende modulare Charakterisierung von Dünnschichtsystemen mittels Reflexionsmessungen (2023) Pham A Thesis Optimierung und Charakterisierung von 2D-Materialien für die Passivierung von schwarzem Phosphor (2022) Szabo M Thesis