Fast Reconstruction of Three-Quarter Sampling Measurements Using Recurrent Local Joint Sparse Deconvolution and Extrapolation

Grosche S, Regensky A, Sinn A, Seiler J, Kaup A (2022)

Publication Type: Journal article

Publication year: 2022

Journal

IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Book Volume: 69

Pages Range: 2398-2402

Journal Issue: 5

DOI: 10.1109/TCSII.2022.3160012

Authors with CRIS profile

Simon Grosche Lehrstuhl für Multimediakommunikation und Signalverarbeitung (LMS) Andy Regensky Lehrstuhl für Multimediakommunikation und Signalverarbeitung (LMS) Jürgen Seiler Lehrstuhl für Multimediakommunikation und Signalverarbeitung (LMS) Andre Kaup Lehrstuhl für Multimediakommunikation und Signalverarbeitung (LMS)

How to cite

APA:

Grosche, S., Regensky, A., Sinn, A., Seiler, J., & Kaup, A. (2022). Fast Reconstruction of Three-Quarter Sampling Measurements Using Recurrent Local Joint Sparse Deconvolution and Extrapolation. IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 69(5), 2398-2402. https://doi.org/10.1109/TCSII.2022.3160012

MLA:

Grosche, Simon, et al. "Fast Reconstruction of Three-Quarter Sampling Measurements Using Recurrent Local Joint Sparse Deconvolution and Extrapolation." IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 69.5 (2022): 2398-2402.

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