Beam-induced heating at low electron fluxes during liquid phase transmission electron microscopy

Fritsch B, Hutzler A, Wu M, Vogl L, Jank MP, März M, Spiecker E (2021)

Publication Type: Journal article, Original article

Publication year: 2021

Journal

Microscopy and Microanalysis Cambridge University Press (CUP)

Original Authors: Birk Fritsch, Andreas Hutzler, Mingjian Wu, Lilian Vogl, Michael P.M. Jank, Martin März, Erdmann Spiecker

Book Volume: 27

Pages Range: 1040-1042

Issue: S1

DOI: 10.1017/S1431927621003937

Authors with CRIS profile

Birk Fritsch Lehrstuhl für Leistungselektronik (LEE) Andreas Hutzler Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente Mingjian Wu Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung) Lilian Vogl Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung) Martin März Lehrstuhl für Leistungselektronik (LEE) Erdmann Spiecker Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)

Involved external institutions

Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie (IISB) DE Germany (DE)

How to cite

APA:

Fritsch, B., Hutzler, A., Wu, M., Vogl, L., Jank, M.P., März, M., & Spiecker, E. (2021). Beam-induced heating at low electron fluxes during liquid phase transmission electron microscopy. Microscopy and Microanalysis, 27, 1040-1042. https://doi.org/10.1017/S1431927621003937

MLA:

Fritsch, Birk, et al. "Beam-induced heating at low electron fluxes during liquid phase transmission electron microscopy." Microscopy and Microanalysis 27 (2021): 1040-1042.

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