Advantages of aberration correction for HRTEM investigation of complex layer compounds

Beitrag bei einer Tagung


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Spiecker E, Garbrecht M, Jaeger W, Tillmann K
Verlag: Wiley-Blackwell
Jahr der Veröffentlichung: 2010
Band: 237
Heftnummer: 3
Seitenbereich: 341-346
ISSN: 0022-2720
eISSN: 1365-2818


Abstract


Aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) has been applied to resolve the atomic structure of a complex layered crystal, (PbS)(1.14)NbS(2), which comprises a high density of incommensurate interfaces. The strong suppression of image delocalization and the favourable contrast transfer under negative C(s) imaging (NCSI) conditions have been exploited for obtaining HRTEM images which directly reveal the projected crystal structure and allow to study lattice imperfections, like stacking disorder and layer undulations, with atomic scale resolution. The advantages of aberration-corrected HRTEM over conventional HRTEM are demonstrated by direct comparison of experimental images and computer simulations.



FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Spiecker, Erdmann Prof. Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)


Zusätzliche Organisationseinheit(en)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)
Interdisziplinäres Zentrum, Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM)


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

Christian-Albrechts-Universität zu Kiel
Forschungszentrum Jülich / Research Centre Jülich (FZJ)


Zitierweisen

APA:
Spiecker, E., Garbrecht, M., Jaeger, W., & Tillmann, K. (2010). Advantages of aberration correction for HRTEM investigation of complex layer compounds. (pp. 341-346). Wiley-Blackwell.

MLA:
Spiecker, Erdmann, et al. "Advantages of aberration correction for HRTEM investigation of complex layer compounds." Wiley-Blackwell, 2010. 341-346.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-29-05 um 08:45