Grid Behavior under Fault Situations in ±380 VDC Distribution Systems

Beitrag bei einer Tagung
(Konferenzbeitrag)


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Kaiser J, Gosses K, Ott L, Han Y, Wunder B, März M, Weiss R
Herausgeber: IEEE
Jahr der Veröffentlichung: 2017
ISBN: 978-1-5090-4479-5
Sprache: Englisch


Abstract


DC microgrids for commercial buildings and data centers offer a number of advantages, e.g. a higher overall efficiency or easier integration of renewable energy sources and storage systems. Moving to a bipolar ±380 VDC grid offers even further advantages. Yet, additional challenges have to be faced in order to ensure a safe and stable operation. This work focuses on the analyzation of fault scenarios under the influence of different grounding concepts, starting off with a simulative approach and verifying the results as part of a laboratory test grid.


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Han, Yunchao
Lehrstuhl für Leistungselektronik
März, Martin Prof. Dr.
Lehrstuhl für Leistungselektronik
Wunder, Bernd
Lehrstuhl für Leistungselektronik


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie (IISB)


Zitierweisen

APA:
Kaiser, J., Gosses, K., Ott, L., Han, Y., Wunder, B., März, M., & Weiss, R. (2017). Grid Behavior under Fault Situations in ±380 VDC Distribution Systems. In IEEE (Eds.), Proceedings of the 2017 IEEE International Conference on DC Microgrids (ICDCM). Nürnberg, DE.

MLA:
Kaiser, Julian, et al. "Grid Behavior under Fault Situations in ±380 VDC Distribution Systems." Proceedings of the 2017 IEEE International Conference on DC Microgrids (ICDCM), Nürnberg Ed. IEEE, 2017.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-09-07 um 09:19