Probe-then-Push: Single-Probe Tactile Misalignment Prediction for Robotic Connector Insertion in Wire Harness Assembly

Lamprecht S, Makwana D, Franke J, Bründl P (2026)

Publication Language: English

Publication Type: Conference contribution, Conference Contribution

Publication year: 2026

Publisher: IEEE

Pages Range: 1-6

Conference Proceedings Title: 2026 IEEE 31st International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA)

Event location: Västerås SE

ISBN: 979-8-3315-7889-3

URI: https://ieeexplore.ieee.org/document/11724815

DOI: 10.1109/ETFA68377.2026.11724815

Authors with CRIS profile

Simon Lamprecht Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS) Jörg Franke Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS) Patrick Bründl Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS)

How to cite

APA:

Lamprecht, S., Makwana, D., Franke, J., & Bründl, P. (2026). Probe-then-Push: Single-Probe Tactile Misalignment Prediction for Robotic Connector Insertion in Wire Harness Assembly. In 2026 IEEE 31st International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) (pp. 1-6). Västerås, SE: IEEE.

MLA:

Lamprecht, Simon, et al. "Probe-then-Push: Single-Probe Tactile Misalignment Prediction for Robotic Connector Insertion in Wire Harness Assembly." Proceedings of the 2026 IEEE 31st International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), Västerås IEEE, 2026. 1-6.

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