Electric Test

Hensel A, Xu P, Gräf D, Franke J (2019)

Publication Type: Authored book

Publication year: 2019

Publisher: Springer Berlin Heidelberg

ISBN: 9783662531204

Abstract

The application of an electric test can verify the functionality of an assembled circuit board. Several tests are used: in-circuit test, flying probe testers, and run-in/burn-in test. The in-circuit test describes a test pattern where a final assembled circuit board is tested in order to identify malfunctions. The flying probe was developed based on bed-of-nail (BON) with probes replacing the pins. The run-in/burn-in test is a quality screening technique for electronic components under electrical and thermal stress, used for early failure detection.

Authors with CRIS profile

Alexander Hensel Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS) Ping Xu Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS) Daniel Gräf Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS) Jörg Franke Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS)

How to cite

APA:

Hensel, A., Xu, P., Gräf, D., & Franke, J. (2019). Electric Test. Springer Berlin Heidelberg.

MLA:

Hensel, Alexander, et al. Electric Test. Springer Berlin Heidelberg, 2019.

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