Modellierung und Messung von Emissionen an Transceiverpins in Automotive-System-ICs, verursacht durch integrierte DC/DC-Wandler
Schade A, Klotz F, Jahn S, Weigel R (2020)
Publication Type: Conference contribution
Publication year: 2020
Publisher: Mesago Messe Frankfurt GmbH
Pages Range: 365-374
Conference Proceedings Title: EMV 2020 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Verträglichkeit
Event location: Koln
ISBN: 9783863598266
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How to cite
APA:
Schade, A., Klotz, F., Jahn, S., & Weigel, R. (2020). Modellierung und Messung von Emissionen an Transceiverpins in Automotive-System-ICs, verursacht durch integrierte DC/DC-Wandler. In Heyno Garbe (Eds.), EMV 2020 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Verträglichkeit (pp. 365-374). Koln, DE: Mesago Messe Frankfurt GmbH.
MLA:
Schade, Alexander, et al. "Modellierung und Messung von Emissionen an Transceiverpins in Automotive-System-ICs, verursacht durch integrierte DC/DC-Wandler." Proceedings of the 2020 Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit, EMV 2020 - 2020 International Exhibition and Conference on Electromagnetic Compatibility, EMV 2020, Koln Ed. Heyno Garbe, Mesago Messe Frankfurt GmbH, 2020. 365-374.
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