Large chamber scanning electron microscopes: Challenges and Aspects for Materials Science

Göken M, Höppel HW (2004)

Publication Type: Journal article

Publication year: 2004

Journal

Imaging & Microscopy GIT-Verlag

Pages Range: 34-35

Journal Issue: 3

Authors with CRIS profile

Mathias Göken Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften) Heinz Werner Höppel Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)

Additional Organisation(s)

Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)

Related research project(s)

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How to cite

APA:

Göken, M., & Höppel, H.W. (2004). Large chamber scanning electron microscopes: Challenges and Aspects for Materials Science. Imaging & Microscopy, 3, 34-35.

MLA:

Göken, Mathias, and Heinz Werner Höppel. "Large chamber scanning electron microscopes: Challenges and Aspects for Materials Science." Imaging & Microscopy 3 (2004): 34-35.

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