Analyse des Alterungsverhaltens von MS-Papier-Massekabeln unterschiedlicher Generationen anhand der Rückkehrspannung
Weindl C, Mladenovic I, Scharrer T, Patsch R (2012)
Publication Type: Conference contribution
Publication year: 2012
Pages Range: -
Conference Proceedings Title: VDE-Kongress: Diagnostik elektrischer Betriebsmittel
Event location: Fulda
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APA:
Weindl, C., Mladenovic, I., Scharrer, T., & Patsch, R. (2012). Analyse des Alterungsverhaltens von MS-Papier-Massekabeln unterschiedlicher Generationen anhand der Rückkehrspannung. In VDE-Kongress: Diagnostik elektrischer Betriebsmittel (pp. -). Fulda, DE.
MLA:
Weindl, Christian, et al. "Analyse des Alterungsverhaltens von MS-Papier-Massekabeln unterschiedlicher Generationen anhand der Rückkehrspannung." Proceedings of the VDE-Kongress 2012, Fulda 2012. -.
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