Technisches Messen

Journal Abbreviation: TECH MESS
ISSN: 0171-8096
eISSN: 2196-7113
Publisher: Oldenbourg Verlag

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Abstract

Investigation of phase singularities in the vicinity of small structures using a Linnik interference microscope (2000) Leuchs G Journal article Kohärenzradar - ein 3D-Sensor im Genauigkeitsbereich von 1 µ (2000) Häusler G Journal article Untersuchung von Phasensingularitäten in der Umgebung kleiner Strukturen mit einem Linnik-Interferenzmikroskop (2000) Leuchs G Journal article Multiple-Wavelength Interferometry for Absolute Distance Measurement and Three-Dimentional Imaging (2000) Leuchs G Journal article Optische 3D-Sensoren und deren industrielle Anwendung (1996) Häusler G Journal article
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