Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography

El Melegy A, Hausotte T, Mohammed Abu EWY, Mohammed Ahmed A, Weinert B, Klöpzig U (2016)

Publication Language: English

Publication Type: Conference contribution, Conference Contribution

Publication year: 2016

Pages Range: 261-266

Conference Proceedings Title: IEEE IST 2016 Conference Proceeding

Event location: Chania, Kreta GR

Authors with CRIS profile

Ahmed El Melegy Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik Tino Hausotte Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik Benedict Weinert Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik Ute Klöpzig Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik

How to cite

APA:

El Melegy, A., Hausotte, T., Mohammed Abu, E.-W.Y., Mohammed Ahmed, A., Weinert, B., & Klöpzig, U. (2016). Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography. In IEEE IST 2016 Conference Proceeding (pp. 261-266). Chania, Kreta, GR.

MLA:

El Melegy, Ahmed, et al. "Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography." Proceedings of the IEEE International Conference on Imaging Systems & Techniques, Chania, Kreta 2016. 261-266.

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