From in situ characterization to process control of quantum dot systems

Peukert W, Segets D, Haderlein M, Pflug L, Leugering G, Gröschel M (2015)

Publication Language: English

Publication Status: Published

Publication Type: Conference contribution, Conference Contribution

Publication year: 2015

Publisher: Elsevier Ltd

Book Volume: 102

Pages Range: 575-581

Event location: Bejing CN

DOI: 10.1016/j.proeng.2015.01.129

Authors with CRIS profile

Wolfgang Peukert Lehrstuhl für Feststoff- und Grenzflächenverfahrenstechnik Michael Haderlein Lehrstuhl für Feststoff- und Grenzflächenverfahrenstechnik Lukas Pflug Lehrstuhl für Angewandte Mathematik (Kontinuierliche Optimierung) Günter Leugering Lehrstuhl für Angewandte Mathematik Michael Gröschel Lehrstuhl für Angewandte Mathematik

Involved external institutions

Universität Duisburg-Essen (UDE) DE Germany (DE)

How to cite

APA:

Peukert, W., Segets, D., Haderlein, M., Pflug, L., Leugering, G., & Gröschel, M. (2015). From in situ characterization to process control of quantum dot systems. In Proceedings of the 7th World Congress on Particle Technology, WCPT 2014 (pp. 575-581). Bejing, CN: Elsevier Ltd.

MLA:

Peukert, Wolfgang, et al. "From in situ characterization to process control of quantum dot systems." Proceedings of the 7th World Congress on Particle Technology, WCPT 2014, Bejing Elsevier Ltd, 2015. 575-581.

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