Frequency Response Characterization of Surface Acoustic Wave Resonators Using a Six-Port Frequency Measurement System

Scheiner B, Lurz F, Michler F, Weigel R, Kölpin A (2019)

Publication Type: Conference contribution, Conference Contribution

Publication year: 2019

Event location: Miltenberg

ISBN: 978-3-948571-00-9

URI: https://ieeexplore.ieee.org/document/8890082

Authors with CRIS profile

Benedict Scheiner Lehrstuhl für Technische Elektronik Fabian Lurz Lehrstuhl für Technische Elektronik Fabian Michler Lehrstuhl für Technische Elektronik Robert Weigel Lehrstuhl für Technische Elektronik Alexander Kölpin Lehrstuhl für Technische Elektronik

How to cite

APA:

Scheiner, B., Lurz, F., Michler, F., Weigel, R., & Kölpin, A. (2019). Frequency Response Characterization of Surface Acoustic Wave Resonators Using a Six-Port Frequency Measurement System. In IEEE (Eds.), Proceedings of the Kleinheubacher Tagung. Miltenberg.

MLA:

Scheiner, Benedict, et al. "Frequency Response Characterization of Surface Acoustic Wave Resonators Using a Six-Port Frequency Measurement System." Proceedings of the Kleinheubacher Tagung, Miltenberg Ed. IEEE, 2019.

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