Low Energy Nano Diffraction (LEND) – Bringing true Diffraction to SEM

Schweizer P, Denninger P, Dolle C, Rechberger S, Spiecker E (2019)

Publication Language: English

Publication Type: Journal article, Original article

Publication year: 2019

Journal

Microscopy and Microanalysis Cambridge University Press (CUP)

DOI: 10.1017/S1431927619002988

Authors with CRIS profile

Peter Schweizer Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung) Peter Denninger Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung) Christian Dolle Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung) Stefanie Rechberger Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung) Erdmann Spiecker Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)

Additional Organisation(s)

Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung) Graduiertenkolleg 1896/2 In situ Mikroskopie mit Elektronen, Röntgenstrahlen und Rastersonden Interdisziplinäres Zentrum, Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM)

How to cite

APA:

Schweizer, P., Denninger, P., Dolle, C., Rechberger, S., & Spiecker, E. (2019). Low Energy Nano Diffraction (LEND) – Bringing true Diffraction to SEM. Microscopy and Microanalysis. https://dx.doi.org/10.1017/S1431927619002988

MLA:

Schweizer, Peter, et al. "Low Energy Nano Diffraction (LEND) – Bringing true Diffraction to SEM." Microscopy and Microanalysis (2019).

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