Three-Dimensional Electrostatic Field at an Electron Nano-Emitter Determined by Differential Phase Contrast in Scanning Transmission Electron Microscopy

Beitrag in einer Fachzeitschrift
(Letter)


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Wu M, Tafel A, Hommelhoff P, Spiecker E
Zeitschrift: Microscopy and Microanalysis
Jahr der Veröffentlichung: 2019
Band: 25
Heftnummer: S2
Tagungsband: Microscopy and Microanalysis
Seitenbereich: 74-75
ISSN: 1431-9276
Sprache: Englisch


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Hommelhoff, Peter Prof. Dr.
Lehrstuhl für Laserphysik
Spiecker, Erdmann Prof. Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)
Tafel, Alexander
Lehrstuhl für Laserphysik
Wu, Mingjian Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)


Zitierweisen

APA:
Wu, M., Tafel, A., Hommelhoff, P., & Spiecker, E. (2019). Three-Dimensional Electrostatic Field at an Electron Nano-Emitter Determined by Differential Phase Contrast in Scanning Transmission Electron Microscopy. Microscopy and Microanalysis, 25(S2), 74-75. https://dx.doi.org/10.1017/S1431927619001107

MLA:
Wu, Mingjian, et al. "Three-Dimensional Electrostatic Field at an Electron Nano-Emitter Determined by Differential Phase Contrast in Scanning Transmission Electron Microscopy." Microscopy and Microanalysis 25.S2 (2019): 74-75.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-20-08 um 09:08