Infrared Absorption Imaging of Water Ingress Into the Encapsulation of (Opto-)Electronic Devices

Beitrag in einer Fachzeitschrift
(Originalarbeit)


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Hepp J, Vetter A, Langner S, Woiton M, Jovicic G, Burlafinger K, Hauch J, Camus C, Egelhaaf HJA, Brabec C
Zeitschrift: IEEE Journal of Photovoltaics
Verlag: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Jahr der Veröffentlichung: 2019
Band: 9
Heftnummer: 1
Seitenbereich: 252-258
ISSN: 2156-3381
Sprache: Englisch


Abstract

Water ingress into the encapsulation of electronic devices is a serious issue, especially for organic and perovskite-based electronics. In order to guide the development of suitable barrier materials and design, a reliable, fast, and non-destructive analysis tool is required. In this work, an imaging setup is presented, which is based on selective infrared (IR) radiation sources and a mid-IR sensitive camera that uses the absorption hand of water around 1920 nm and a reference band. This system enables us to monitor the distribution of water concentration inside the packaging of devices and its change over time. Our measurement is capable of detecting the local presence of water down to the mg/m(2) concentration range in a wide variety of encapsulation materials. The new tool allows identifying the pathways of moisture ingress into the encapsulation along with the corresponding diffusion coefficient. Thus, it provides fast and reliable analysis of humidity related failure mechanisms, and consequently helps to improve the design of encapsulation materials and processes.


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Brabec, Christoph Prof. Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Burlafinger, Klaus
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Camus, Christian Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Egelhaaf, Hans-Joachim Albert
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Hauch, Jens Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Hepp, Johannes
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Jovicic, Gordana Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Langner, Stefan
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Vetter, Andreas Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Woiton, Michael Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)


Forschungsbereiche

Neue Materialien und Prozesse
Forschungsschwerpunkt einer Fakultät: Technische Fakultät


Zitierweisen

APA:
Hepp, J., Vetter, A., Langner, S., Woiton, M., Jovicic, G., Burlafinger, K.,... Brabec, C. (2019). Infrared Absorption Imaging of Water Ingress Into the Encapsulation of (Opto-)Electronic Devices. IEEE Journal of Photovoltaics, 9(1), 252-258. https://dx.doi.org/10.1109/JPHOTOV.2018.2877883

MLA:
Hepp, Johannes, et al. "Infrared Absorption Imaging of Water Ingress Into the Encapsulation of (Opto-)Electronic Devices." IEEE Journal of Photovoltaics 9.1 (2019): 252-258.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-18-07 um 07:32