In Situ and Analytical Transmission Electron Microscopy

Beitrag in einer Fachzeitschrift


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Birajdar B, Spiecker E
Zeitschrift: Imaging & Microscopy
Jahr der Veröffentlichung: 2012
Band: 3
Seitenbereich: 25-27
ISSN: 1439-4243
eISSN: 1863-7809


Abstract

In situ and analytical transmission electron microscopy (TEM) has been used to investigate the mechanism of material transport during Al-induced layer exchange (ALILE) and crystallization of amorphous Si (a-Si). Significant lateral and vertical redistribution of Al was observed, yielding Al deficient dendritic cell centers surrounded by an about 10 µm wide Al excess zone containing epitaxial islands of \dqpushed-up\dq Al whose number density and size decreases with increasing ­distance from the cell boundary.


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Birajdar, Balaji Dr. rer. nat.
Professur für Werkstoffwissenschaften (Elektronenmikroskopie)
Spiecker, Erdmann Prof. Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)


Zusätzliche Organisationseinheit(en)
Exzellenz-Cluster Engineering of Advanced Materials
Interdisziplinäres Zentrum, Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM)


Forschungsbereiche

A2 Nanoanalysis and Microscopy
Exzellenz-Cluster Engineering of Advanced Materials


Zitierweisen

APA:
Birajdar, B., & Spiecker, E. (2012). In Situ and Analytical Transmission Electron Microscopy. Imaging & Microscopy, 3, 25-27.

MLA:
Birajdar, Balaji, and Erdmann Spiecker. "In Situ and Analytical Transmission Electron Microscopy." Imaging & Microscopy 3 (2012): 25-27.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-29-05 um 08:59