Determination of 3D electrostatic field at an electron nano-emitter

Wu M, Tafel A, Hommelhoff P, Spiecker E (2019)

Publication Type: Journal article, Letter

Publication year: 2019

Journal

Applied Physics Letters American Institute of Physics (AIP)

Book Volume: 114

Pages Range: 013101

Journal Issue: 01

URI: http://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5055227

DOI: 10.1063/1.5055227

Authors with CRIS profile

Mingjian Wu Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung) Alexander Tafel Lehrstuhl für Laserphysik Peter Hommelhoff Lehrstuhl für Laserphysik Erdmann Spiecker Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)

Additional Organisation(s)

Graduiertenkolleg 1896/2 In situ Mikroskopie mit Elektronen, Röntgenstrahlen und Rastersonden Interdisziplinäres Zentrum, Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM)

Related research project(s)

In-situ Characterization of Nanomaterials with Electrons, X-rays/Neutrons and Scanning Probes (GRK 1896) Oct. 1, 2013 - Sept. 30, 2022

How to cite

APA:

Wu, M., Tafel, A., Hommelhoff, P., & Spiecker, E. (2019). Determination of 3D electrostatic field at an electron nano-emitter. Applied Physics Letters, 114(01), 013101. https://doi.org/10.1063/1.5055227

MLA:

Wu, Mingjian, et al. "Determination of 3D electrostatic field at an electron nano-emitter." Applied Physics Letters 114.01 (2019): 013101.

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