Inverse dopant profiling for highly doped semiconductor devices

Beitrag bei einer Tagung


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Burger M
Herausgeber: Breitenecker F, Troch I
Jahr der Veröffentlichung: 2005
ISBN: 3-901608-30-3


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

Westfälische Wilhelms-Universität (WWU) Münster

Zuletzt aktualisiert 2019-17-04 um 04:23

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