Application and comparison of analytic accelerated test-models for lifetime prediction of a novel contacting method

Conference contribution


Publication Details

Author(s): Spahr M, Kreitlein S, Haas R, Jaumann A, Gläßel T, Spreng S, Franke J
Publishing place: Clearwater Beach, FL USA
Publication year: 2016
Conference Proceedings Title: 2016 IEEE 62st Holm Conference


FAU Authors / FAU Editors

Franke, Jörg Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik
Gläßel, Tobias
Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik
Haas, Raphael
Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik
Jaumann, Andreas
Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik
Kreitlein, Sven
Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik
Spahr, Michael
Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik
Spreng, Simon
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How to cite

APA:
Spahr, M., Kreitlein, S., Haas, R., Jaumann, A., Gläßel, T., Spreng, S., & Franke, J. (2016). Application and comparison of analytic accelerated test-models for lifetime prediction of a novel contacting method. In 2016 IEEE 62st Holm Conference. Clearwater Beach, FL USA.

MLA:
Spahr, Michael, et al. "Application and comparison of analytic accelerated test-models for lifetime prediction of a novel contacting method." Proceedings of the 2016 IEEE 62st Holm Conference Clearwater Beach, FL USA, 2016.

BibTeX: 

Last updated on 2018-10-08 at 18:26