Mehrwellenlängen-Interferometrie zur absoluten Abstandsmessung und 3D-Bildgebung

Leuchs G (2000)

Publication Type: Journal article

Publication year: 2000

Journal

Technisches Messen Oldenbourg Verlag

Book Volume: 67

Pages Range: 406-409

Authors with CRIS profile

Gerhard Leuchs Lehrstuhl für Experimentalphysik (Optik)

How to cite

APA:

Leuchs, G. (2000). Mehrwellenlängen-Interferometrie zur absoluten Abstandsmessung und 3D-Bildgebung. Technisches Messen, 67, 406-409.

MLA:

Leuchs, Gerd. "Mehrwellenlängen-Interferometrie zur absoluten Abstandsmessung und 3D-Bildgebung." Technisches Messen 67 (2000): 406-409.

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