Integrated Test Concepts for In-Situ Millimeter-Wave Device Characterization

Kissinger D, Nehring J, Bauch A, Borutta K, Nasr I, Lämmle B, Weigel R (2015)

Publication Type: Conference contribution

Publication year: 2015

Pages Range: 1-4

Event location: Grenoble FR

DOI: 10.1109/NEWCAS.2015.7181980

Authors with CRIS profile

Dietmar Kissinger Lehrstuhl für Technische Elektronik Johannes Nehring Lehrstuhl für Technische Elektronik Andreas Bauch Lehrstuhl für Technische Elektronik Karl Borutta Lehrstuhl für Technische Elektronik Ismail Nasr Lehrstuhl für Technische Elektronik Benjamin Lämmle Lehrstuhl für Technische Elektronik Robert Weigel Lehrstuhl für Technische Elektronik

How to cite

APA:

Kissinger, D., Nehring, J., Bauch, A., Borutta, K., Nasr, I., Lämmle, B., & Weigel, R. (2015). Integrated Test Concepts for In-Situ Millimeter-Wave Device Characterization. In Proceedings of the IEEE 13th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS) (pp. 1-4). Grenoble, FR.

MLA:

Kissinger, Dietmar, et al. "Integrated Test Concepts for In-Situ Millimeter-Wave Device Characterization." Proceedings of the IEEE 13th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Grenoble 2015. 1-4.

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