Recap of the 2016 DATE Conference & Exhibition

Beitrag in einer Fachzeitschrift


Details zur Publikation

Autor(en): Fanucci L, Teich J
Zeitschrift: IEEE Design and Test of Computers
Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Jahr der Veröffentlichung: 2016
Band: 33
Heftnummer: 4
Seitenbereich: 114-117
ISSN: 0740-7475


FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Teich, Jürgen Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)


Autor(en) der externen Einrichtung(en)
University of Pisa / Università di Pisa (UniPi)


Zitierweisen

APA:
Fanucci, L., & Teich, J. (2016). Recap of the 2016 DATE Conference & Exhibition. IEEE Design and Test of Computers, 33(4), 114-117. https://dx.doi.org/10.1109/MDAT.2016.2570223

MLA:
Fanucci, Luca, and Jürgen Teich. "Recap of the 2016 DATE Conference & Exhibition." IEEE Design and Test of Computers 33.4 (2016): 114-117.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-27-09 um 14:47