Characterization of the microstructure of self-leveling compounds (SLC) using 2-dimensional XRD (GADDS).

Beitrag bei einer Tagung


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Seifert S, Neubauer J, Götz-Neunhoeffer F, Motzet H
Jahr der Veröffentlichung: 2008
Tagungsband: Proceedings of the Centenary Conference 2008
Seitenbereich: 581-592
ISBN: 978-1-84806-045-6


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Götz-Neunhoeffer, Friedlinde Prof. Dr.
Lehrstuhl für Mineralogie
Neubauer, Jürgen apl. Prof. Dr.
Lehrstuhl für Mineralogie


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg (MLU)


Zitierweisen

APA:
Seifert, S., Neubauer, J., Götz-Neunhoeffer, F., & Motzet, H. (2008). Characterization of the microstructure of self-leveling compounds (SLC) using 2-dimensional XRD (GADDS). In Proceedings of the Centenary Conference 2008 (pp. 581-592). Avignon, FR.

MLA:
Seifert, Severin, et al. "Characterization of the microstructure of self-leveling compounds (SLC) using 2-dimensional XRD (GADDS)." Proceedings of the Calcium Aluminate Cements; Centenary Conference 2008, Avignon 2008. 581-592.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-23-11 um 06:05