Beam Profile Deformation of Fs-Laser Pulses During Electro-optic Scanning with KTN Crystals

Beitrag in einer Fachzeitschrift


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Bechtold P, Bauer D, Schmidt M
Zeitschrift: Physics Procedia
Verlag: Elsevier BV
Jahr der Veröffentlichung: 2012
Band: 39
Seitenbereich: 683-692
ISSN: 1875-3892
eISSN: 1875-3884
Sprache: Englisch


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Bauer, Dominik
Lehrstuhl für Photonische Technologien
Bechtold, Peter
Lehrstuhl für Photonische Technologien
Schmidt, Michael Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Photonische Technologien


Zusätzliche Organisationseinheit(en)
Erlangen Graduate School in Advanced Optical Technologies


Zitierweisen

APA:
Bechtold, P., Bauer, D., & Schmidt, M. (2012). Beam Profile Deformation of Fs-Laser Pulses During Electro-optic Scanning with KTN Crystals. Physics Procedia, 39, 683-692. https://dx.doi.org/10.1016/j.phpro.2012.10.089

MLA:
Bechtold, Peter, Dominik Bauer, and Michael Schmidt. "Beam Profile Deformation of Fs-Laser Pulses During Electro-optic Scanning with KTN Crystals." Physics Procedia 39 (2012): 683-692.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-28-07 um 20:10