Lifetime Reliability Optimization for Embedded Systems: A System-Level Approach

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Details zur Publikation

Autor(en): Glaß M, Lukasiewycz M, Haubelt C, Teich J
Jahr der Veröffentlichung: 2010
Tagungsband: Proceedings of IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test (RASDAT '10)
Seitenbereich: 17-22


FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Glaß, Michael Prof. Dr.-Ing.
Juniorprofessur für Informatik
Haubelt, Christian Prof. Dr.-Ing.
Technische Fakultät
Teich, Jürgen Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)


Zitierweisen

APA:
Glaß, M., Lukasiewycz, M., Haubelt, C., & Teich, J. (2010). Lifetime Reliability Optimization for Embedded Systems: A System-Level Approach. In Proceedings of IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test (RASDAT '10) (pp. 17-22). Bangalore, IN.

MLA:
Glaß, Michael, et al. "Lifetime Reliability Optimization for Embedded Systems: A System-Level Approach." Proceedings of the IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test (RASDAT '10), Bangalore 2010. 17-22.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-10-08 um 06:09