Application-aware cross-layer reliability analysis and optimization

Beitrag in einer Fachzeitschrift


Details zur Publikation

Autor(en): Aliee H, Glaß M, Chen L, Ebrahimi M, Khosravi F, Kleeberger VB, Listl A, Müller-Gritschneder D, Oboril F, Schlichtmann U, Tahoori MB, Teich J, Wehn N, Weis C
Zeitschrift: it - Information Technology
Verlag: Gesellschaft für Informatik
Jahr der Veröffentlichung: 2015
Band: 57
Heftnummer: 3
Seitenbereich: 159-169
ISSN: 1611-2776
eISSN: 2196-7032


FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Aliee, Hananeh
Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)
Glaß, Michael Prof. Dr.-Ing.
Juniorprofessur für Informatik
Khosravi, Faramarz
Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)
Teich, Jürgen Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)


Autor(en) der externen Einrichtung(en)
Infineon Technologies AG
Karlsruhe Institute of Technology (KIT)
Technische Universität Kaiserslautern
Technische Universität München (TUM)


Zitierweisen

APA:
Aliee, H., Glaß, M., Chen, L., Ebrahimi, M., Khosravi, F., Kleeberger, V.B.,... Weis, C. (2015). Application-aware cross-layer reliability analysis and optimization. it - Information Technology, 57(3), 159-169. https://dx.doi.org/10.1515/itit-2014-1080

MLA:
Aliee, Hananeh, et al. "Application-aware cross-layer reliability analysis and optimization." it - Information Technology 57.3 (2015): 159-169.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-07-08 um 21:24