A Fast and Accurate Fault Tree Analysis Based on Stochastic Logic Implemented on Field-Programmable Gate Arrays

Beitrag in einer Fachzeitschrift


Details zur Publikation

Autor(en): Aliee H, Zarandi HR
Zeitschrift: IEEE Transactions on Reliability
Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Jahr der Veröffentlichung: 2012
Band: 62
Heftnummer: 99
Seitenbereich: 13-22
ISSN: 0018-9529


FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Aliee, Hananeh
Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)


Autor(en) der externen Einrichtung(en)
Amirkabir University of Technology (AUT) / دانشگاه صنعتی امیرکبیر


Zitierweisen

APA:
Aliee, H., & Zarandi, H.R. (2012). A Fast and Accurate Fault Tree Analysis Based on Stochastic Logic Implemented on Field-Programmable Gate Arrays. IEEE Transactions on Reliability, 62(99), 13-22. https://dx.doi.org/10.1109/TR.2012.2221012

MLA:
Aliee, Hananeh, and Hamid Reza Zarandi. "A Fast and Accurate Fault Tree Analysis Based on Stochastic Logic Implemented on Field-Programmable Gate Arrays." IEEE Transactions on Reliability 62.99 (2012): 13-22.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-07-08 um 04:41