Real-time evaluation of thin film drying kinetics using an advanced, multi-probe optical setup

Beitrag in einer Fachzeitschrift
(Originalarbeit)


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Güldal NS, Kassar T, Berlinghof M, Ameri T, Osvet A, Pacios R, Li Destri G, Unruh T, Brabec C
Zeitschrift: Journal of Materials Chemistry C
Verlag: Royal Society of Chemistry
Jahr der Veröffentlichung: 2016
Band: 4
Heftnummer: 11
Seitenbereich: 2178-2186
ISSN: 2050-7526


Abstract


Solution-processed organic photovoltaic devices are advantageous due to their low-cost large area manufacturing techniques, such as slot-die coating, gravure printing and roll-to-roll coating. The final microstructure of a polymer:fullerene bulk-heterojunction (BHJ) film is a fine interplay between solution thermodynamics (e.g. solubility, miscibility...) and kinetics (e.g. solvent evaporation, polymer ordering, phase separation...) during the drying process. In order to design better performing organic photovoltaic devices, gaining knowledge over the drying properties of polymer:fullerene thin films is essential. A novel in situ thin film drying characterization chamber, equipped with white-light reflectometry, laser light scattering and photoluminescence, is presented in combination with grazing-incidence X-ray diffraction on two different polymer:fullerene bulk heterojunctions based on poly-(3-hexylthiophene-2,5-diyl) (P3HT) and polythieno[3,2b]thiophene-diketopyrrolopyrrole-co-thiophene (DPP-TT-T) polymers. With photoluminescence applied for the first time as an in situ method for such drying studies, these single-chamber measurements track the fine interplay between thermodynamics and kinetics of thin film drying and provide invaluable information on solution behavior and microstructure formation.



FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Ameri, Tayebeh Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Berlinghof, Marvin
Lehrstuhl für Kristallographie und Strukturphysik
Brabec, Christoph Prof. Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Güldal, Nusret Sena
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Kassar, Thaer
Professur für Nanomaterialcharakterisierung (Streumethoden)
Osvet, Andres Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
Unruh, Tobias Prof. Dr.
Professur für Nanomaterialcharakterisierung (Streumethoden)


Zusätzliche Organisationseinheit(en)
Exzellenz-Cluster Engineering of Advanced Materials


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

European Synchrotron Radiation Facility (ESRF)
IK4-Ikerlan


Forschungsbereiche

B Nanoelectronic Materials
Exzellenz-Cluster Engineering of Advanced Materials
A2 Nanoanalysis and Microscopy
Exzellenz-Cluster Engineering of Advanced Materials


Zitierweisen

APA:
Güldal, N.S., Kassar, T., Berlinghof, M., Ameri, T., Osvet, A., Pacios, R.,... Brabec, C. (2016). Real-time evaluation of thin film drying kinetics using an advanced, multi-probe optical setup. Journal of Materials Chemistry C, 4(11), 2178-2186. https://dx.doi.org/10.1039/c5tc03448e

MLA:
Güldal, Nusret Sena, et al. "Real-time evaluation of thin film drying kinetics using an advanced, multi-probe optical setup." Journal of Materials Chemistry C 4.11 (2016): 2178-2186.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-17-11 um 13:50