Analyse des Alterungsverhaltens von MS-Papier-Massekabeln unterschiedlicher Generationen anhand der Rückkehrspannung

Weindl C, Mladenovic I, Scharrer T, Patsch R (2012)

Publication Type: Conference contribution

Publication year: 2012

Pages Range: -

Conference Proceedings Title: VDE-Kongress: Diagnostik elektrischer Betriebsmittel

Event location: Fulda DE

Authors with CRIS profile

Christian Weindl Lehrstuhl für Elektrische Energieversorgung Ivana Mladenovic Lehrstuhl für Elektrische Energieversorgung Thomas Scharrer Lehrstuhl für Elektrische Energieversorgung

Additional Organisation(s)

Lehrstuhl für Elektrische Energiesysteme

How to cite

APA:

Weindl, C., Mladenovic, I., Scharrer, T., & Patsch, R. (2012). Analyse des Alterungsverhaltens von MS-Papier-Massekabeln unterschiedlicher Generationen anhand der Rückkehrspannung. In VDE-Kongress: Diagnostik elektrischer Betriebsmittel (pp. -). Fulda, DE.

MLA:

Weindl, Christian, et al. "Analyse des Alterungsverhaltens von MS-Papier-Massekabeln unterschiedlicher Generationen anhand der Rückkehrspannung." Proceedings of the VDE-Kongress 2012, Fulda 2012. -.

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