Frick M, Eidher R, Weigel R (2012)
Publication Type: Conference contribution
Publication year: 2012
Pages Range: 183-190
Conference Proceedings Title: Internationale Fachmess und Kongress fuer Elektromagnetische Vertraeglichkeit
Event location: Duesseldorf, DE
Die Qualifizierung integrierter Schaltungen (IC) bezüglich ihrer elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) rückt auf Grund steigender Komplexität der Elektronikkomponenten im Automobilbereich immer mehr in den Vordergrund. Zur Durchführung dieser Tests werden die ICs samt ihrer Applikationsbeschaltung und der benötigten HF Ein- und Auskoppelnetzwerke auf eigens für diesen Zweck entwickelte Testleiterplatten aufgebracht. Auf Basis der so ermittelten Ergebnisse können bereits zu einem frühen Entwicklungszeitpunkt Aussagen über das EMV Verhalten des Halbleiters getroffen werden. Der Beitrag zeigt, wie sich der Einfluss der meist unbekannten Pin-Impedanz des IC im Zusammenspiel mit der EMV Prüfleiterplatte auf die Messergebnisse der leitungsgeführten Störaussendung des Halbleiters auswirkt. Zum Einsatz kommen ein Streuparameter De-embedding Verfahren und eine Sensitivitätsanalyse basierend auf der Methode des faktoriellen Designs.
APA:
Frick, M., Eidher, R., & Weigel, R. (2012). Einfluss der Ic-Pin-Impedanz auf die Ergebnisse der leitungsgefuehrten Stoerfestigkeit integrierter Schaltungen. In Internationale Fachmess und Kongress fuer Elektromagnetische Vertraeglichkeit (pp. 183-190). Duesseldorf, DE.
MLA:
Frick, Marco, R. Eidher, and Robert Weigel. "Einfluss der Ic-Pin-Impedanz auf die Ergebnisse der leitungsgefuehrten Stoerfestigkeit integrierter Schaltungen." Proceedings of the Internationale Fachmess und Kongress fuer Elektromagnetische Vertraeglichkeit, Duesseldorf, DE 2012. 183-190.
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