Real-time XRD investigations during the formation of Cu(IngGa)Se-2 Thin films

Beitrag bei einer Tagung


Details zur Publikation

Autor(en): Hock R
Verlag: WILEY-V C H VERLAG GMBH
Jahr der Veröffentlichung: 2006
Band: 22
Heftnummer: 6
Seitenbereich: 423-426
ISSN: 0934-0866


Abstract


Knowledge of the solid-state reactions providing the synthesis of the absorber material Cu(IngGa)Se-2 well below its melting point is an essential prerequisite for the further optimization of the technologically relevant production processes. Therefore, powder XRD has been applied as nondestructive tool to follow chemical solide-state reactions in-situ. Subsequent Rietveld refinement provides the quantitative phase evolution time.



FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Hock, Rainer Prof. Dr.
Professur für Kristallographie und Strukturphysik

Zuletzt aktualisiert 2018-10-08 um 15:53