In-operando studies of Ag-TCNQ nanocrystals using Raman and soft x-ray microspectroscopy

Beitrag in einer Fachzeitschrift


Details zur Publikation

Autor(en): Rösner B, Schmidt U, Fink R
Zeitschrift: Journal of Physics: Conference Series
Jahr der Veröffentlichung: 2017
Band: 849
Seitenbereich: 1-4
ISSN: 1742-6596


Abstract


We characterize individual Ag-TCNQ nanocrystals during switching their resistivity state in operando. Raman and soft X-ray absorption microspectroscopy are employed to disclose the electronic state of the organic component in dependency of applied voltage. Whereas Raman microspectroscopy offers qualitative insight into the conversion of negatively charged TCNQ molecules to their neutral counterpart, quantification of the neutral fraction can be achieved using X-ray absorption spectroscopy. These results allow a detailed investigation of resistivity switching in electrically bistable Ag-TCNQ nanocrystals.



FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Fink, Rainer Prof. Dr.
Professur für Physikalische Chemie
Rösner, Benedikt
Lehrstuhl für Physikalische Chemie II


Zusätzliche Organisationseinheit(en)
Graduiertenkolleg 1896/2 In situ Mikroskopie mit Elektronen, Röntgenstrahlen und Rastersonden


Autor(en) der externen Einrichtung(en)
WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH


Zitierweisen

APA:
Rösner, B., Schmidt, U., & Fink, R. (2017). In-operando studies of Ag-TCNQ nanocrystals using Raman and soft x-ray microspectroscopy. Journal of Physics: Conference Series, 849, 1-4. https://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/849/1/012016

MLA:
Rösner, Benedikt, Ute Schmidt, and Rainer Fink. "In-operando studies of Ag-TCNQ nanocrystals using Raman and soft x-ray microspectroscopy." Journal of Physics: Conference Series 849 (2017): 1-4.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-06-08 um 15:38