Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography

Beitrag bei einer Tagung
(Konferenzbeitrag)


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: El Melegy A, Hausotte T, Mohammed Abu EWY, Mohammed Ahmed A, Weinert B, Klöpzig U
Jahr der Veröffentlichung: 2016
Tagungsband: IEEE IST 2016 Conference Proceeding
Seitenbereich: 261-266
Sprache: Englisch


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

El Melegy, Ahmed
Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik
Hausotte, Tino Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik
Klöpzig, Ute
Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik
Weinert, Benedict
Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik


Zitierweisen

APA:
El Melegy, A., Hausotte, T., Mohammed Abu, E.-W.Y., Mohammed Ahmed, A., Weinert, B., & Klöpzig, U. (2016). Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography. In IEEE IST 2016 Conference Proceeding (pp. 261-266). Chania, Kreta, GR.

MLA:
El Melegy, Ahmed, et al. "Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography." Proceedings of the IEEE International Conference on Imaging Systems & Techniques, Chania, Kreta 2016. 261-266.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-10-08 um 09:25