Machine Learning for CT-Detector Production

Third party funded individual grant


Start date : 01.04.2022


Project details

Scientific Abstract

Das Ziel dieses Projekts ist es, die Herstellung von Detektoren für die Computertomographie (CT) zu verbessern. Dafür werden verschiedene Daten während der Produktion der CT-Detektoren gesammelt und anschließend analysiert. Darauf aufbauend soll ein Machine Learning System entwickelt werden, welches die passende Zusammensetzung eines Detektors erlernt. Dieses System soll später auch während des Herstellungsprozesses eingesetzt werden. Damit soll nicht nur die Bildqualität bei CT-Geräten noch weiter verbessert werden, sondern auch der Produktionsprozess optimiert werden, insbesondere die Lagerausnutzung und den First-Pass-Yield. Das Projekt läuft in Kooperation mit Siemens Healthineers Forchheim.

Involved:

Contributing FAU Organisations:

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Research Areas