Electrical measuring system

Patent type: Nationalisation

Process state: patent applied

Patent number: US 2014-0232417 A1

Registration date: Feb. 11, 2014

Invention

Hochgenaue Positionsmessung mit Hilfe von Mikrowellen-Interferometrie und unter Verwendung einer modifizierten Fin-Line-Struktur als Wegaufnehmer Stefan Lindner, Gabor Vinci, Sebastian Mann, Francesco Barbon, Alexander Kölpin

Patent holder(s)

Stefan Lindner Lehrstuhl für Technische Elektronik Sebastian Mann Lehrstuhl für Technische Elektronik Francesco Barbon Lehrstuhl für Technische Elektronik Gabor Vinci Lehrstuhl für Technische Elektronik Alexander Kölpin Lehrstuhl für Technische Elektronik