Assessment of measurement deviations: length-extended x-ray imaging for orthopedic applications

Beitrag bei einer Tagung


Details zur Publikation

Autor(en): Luckner C, Magdalena H, Ritschl L, Maier A, Kappler S
Jahr der Veröffentlichung: 2019
Band: 10948
Tagungsband: Medical Imaging 2019: Physics of Medical Imaging
Seitenbereich: 1094839


FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Luckner, Christoph
Lehrstuhl für Informatik 5 (Mustererkennung)
Maier, Andreas Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Informatik 5 (Mustererkennung)


Autor(en) der externen Einrichtung(en)
Siemens AG, Healthcare Sector


Zitierweisen

APA:
Luckner, C., Magdalena, H., Ritschl, L., Maier, A., & Kappler, S. (2019). Assessment of measurement deviations: length-extended x-ray imaging for orthopedic applications. In Medical Imaging 2019: Physics of Medical Imaging (pp. 1094839). San Diego, CA, USA.

MLA:
Luckner, Christoph, et al. "Assessment of measurement deviations: length-extended x-ray imaging for orthopedic applications." Proceedings of the SPIE: Medical Imaging, San Diego, CA, USA 2019. 1094839.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-18-03 um 13:53