Large-Area Layer Counting of Two-Dimensional Materials Evaluating the Wavelength Shift in Visible-Reflectance Spectroscopy

Journal article


Publication Details

Author(s): Hutzler A, Matthus C, Dolle C, Rommel M, Jank MPM, Spiecker E, Frey L
Journal: Journal of Physical Chemistry C
Publication year: 2019
ISSN: 1932-7447


FAU Authors / FAU Editors

Dolle, Christian
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)
Frey, Lothar Prof. Dr.
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Hutzler, Andreas Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Matthus, Christian
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Spiecker, Erdmann Prof. Dr.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)


Additional Organisation
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)
Graduiertenkolleg 1896/2 In situ Mikroskopie mit Elektronen, Röntgenstrahlen und Rastersonden
Interdisziplinäres Zentrum, Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM)


External institutions with authors

Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie (IISB)


How to cite

APA:
Hutzler, A., Matthus, C., Dolle, C., Rommel, M., Jank, M.P.M., Spiecker, E., & Frey, L. (2019). Large-Area Layer Counting of Two-Dimensional Materials Evaluating the Wavelength Shift in Visible-Reflectance Spectroscopy. Journal of Physical Chemistry C. https://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.9b00957

MLA:
Hutzler, Andreas, et al. "Large-Area Layer Counting of Two-Dimensional Materials Evaluating the Wavelength Shift in Visible-Reflectance Spectroscopy." Journal of Physical Chemistry C (2019).

BibTeX: 

Last updated on 2019-21-05 at 16:18