In-Situ-Linearization for Instantaneous Frequency Measurement Systems

Beitrag bei einer Tagung
(Konferenzbeitrag)


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Scheiner B, Lurz F, Michler F, Weigel R, Kölpin A
Jahr der Veröffentlichung: 2019
Sprache: Englisch


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Kölpin, Alexander PD Dr.
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Lurz, Fabian
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Michler, Fabian
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Scheiner, Benedict
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Weigel, Robert Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Technische Elektronik


Zitierweisen

APA:
Scheiner, B., Lurz, F., Michler, F., Weigel, R., & Kölpin, A. (2019). In-Situ-Linearization for Instantaneous Frequency Measurement Systems. In Proceedings of the European Microwave Week 2019. Paris, France.

MLA:
Scheiner, Benedict, et al. "In-Situ-Linearization for Instantaneous Frequency Measurement Systems." Proceedings of the European Microwave Week 2019, Paris, France 2019.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-08-08 um 14:23