System Identification Methods for Refined Fault Detection in LVDC-Microgrids

Beitrag bei einer Tagung
(Konferenzbeitrag)


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Strobl C, Schäfer M, Rabenstein R
Jahr der Veröffentlichung: 2019
Sprache: Englisch


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Rabenstein, Rudolf Prof. Dr.
Technische Fakultät
Schäfer, Maximilian
Lehrstuhl für Multimediakommunikation und Signalverarbeitung


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

E-T-A Elektrotechnische Apparate GmbH


Zitierweisen

APA:
Strobl, C., Schäfer, M., & Rabenstein, R. (2019). System Identification Methods for Refined Fault Detection in LVDC-Microgrids. In Proceedings of the International Conference on DC Microgrids (ICDCM). Matsue, JP.

MLA:
Strobl, Christian, Maximilian Schäfer, and Rudolf Rabenstein. "System Identification Methods for Refined Fault Detection in LVDC-Microgrids." Proceedings of the International Conference on DC Microgrids (ICDCM), Matsue 2019.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-16-04 um 03:23