A Flexible Measurement System for Dielectric Waveguide Charaterization at mmW Frequencies

Beitrag bei einer Tagung


Details zur Publikation

Autor(en): Distler F, Schür JS, Vossiek M
Jahr der Veröffentlichung: 2018
Tagungsband: Proceedings of the 48th European Microwave Conference 2018 (EuMC 2018)
Sprache: Englisch


FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Distler, Felix
Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
Schür, Jan Steffen Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
Vossiek, Martin Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik


Zitierweisen

APA:
Distler, F., Schür, J.S., & Vossiek, M. (2018). A Flexible Measurement System for Dielectric Waveguide Charaterization at mmW Frequencies. In Proceedings of the 48th European Microwave Conference 2018 (EuMC 2018).

MLA:
Distler, Felix, Jan Steffen Schür, and Martin Vossiek. "A Flexible Measurement System for Dielectric Waveguide Charaterization at mmW Frequencies." Proceedings of the Proceedings of the 48th European Microwave Conference 2018 (EuMC 2018) 2018.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-11-08 um 02:12