Using coherent optical frequency domain reflectometry to assist the additive manufacturing process of structures for radio frequency applications

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Details zur Publikation

Autor(en): Köppel M, Deckelmann M, Sippel M, Lomakin K, Werzinger S, Gold G, Helmreich K, Schmauß B
Jahr der Veröffentlichung: 2018
Tagungsband: SPIE Optics + Photonics: Optical Engineering + Applications
Sprache: Englisch


FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Gold, Gerald Dr.-Ing.
Professur für Rechnergestützten Schaltungsentwurf
Helmreich, Klaus Prof. Dr.-Ing.
Professur für Rechnergestützten Schaltungsentwurf
Köppel, Max
Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
Lomakin, Konstantin
Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
Schmauß, Bernhard Prof. Dr.-Ing.
Professur für Hochfrequenztechnik mit dem Schwerpunkt Optische Hochfrequenztechnik und Photonik
Sippel, Mark
Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
Werzinger, Stefan
Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik


Zitierweisen

APA:
Köppel, M., Deckelmann, M., Sippel, M., Lomakin, K., Werzinger, S., Gold, G.,... Schmauß, B. (2018). Using coherent optical frequency domain reflectometry to assist the additive manufacturing process of structures for radio frequency applications. In SPIE Optics + Photonics: Optical Engineering + Applications. San Diego, US.

MLA:
Köppel, Max, et al. "Using coherent optical frequency domain reflectometry to assist the additive manufacturing process of structures for radio frequency applications." Proceedings of the SPIE Optics + Photonics: Optical Engineering + Applications, San Diego, US 2018.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-11-08 um 02:41