Using coherent optical frequency domain reflectometry to assist the additive manufacturing process of structures for radio frequency applications

Köppel M, Deckelmann M, Sippel M, Lomakin K, Werzinger S, Gold G, Helmreich K, Schmauß B (2018)

Publication Language: English

Publication Type: Conference contribution

Publication year: 2018

Conference Proceedings Title: SPIE Optics + Photonics: Optical Engineering + Applications

Event location: San Diego, US

DOI: 10.1117/12.2320944

Authors with CRIS profile

Max Köppel Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik Mark Sippel Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik Konstantin Lomakin Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik Stefan Werzinger Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik Gerald Gold Professur für Rechnergestützten Schaltungsentwurf Klaus Helmreich Professur für Rechnergestützten Schaltungsentwurf Bernhard Schmauß Professur für Hochfrequenztechnik mit dem Schwerpunkt Optische Hochfrequenztechnik und Photonik

How to cite

APA:

Köppel, M., Deckelmann, M., Sippel, M., Lomakin, K., Werzinger, S., Gold, G.,... Schmauß, B. (2018). Using coherent optical frequency domain reflectometry to assist the additive manufacturing process of structures for radio frequency applications. In SPIE Optics + Photonics: Optical Engineering + Applications. San Diego, US.

MLA:

Köppel, Max, et al. "Using coherent optical frequency domain reflectometry to assist the additive manufacturing process of structures for radio frequency applications." Proceedings of the SPIE Optics + Photonics: Optical Engineering + Applications, San Diego, US 2018.

BibTeX: Download