Analysis of trace metals on silicon surfaces

Streckfusse N, Frey L, Zielonka G, Kroninger F, Ryzlewicz C, Ryssel H (1992)

Publication Status: Published

Publication Type: Journal article, Original article

Publication year: 1992

Journal

Fresenius Zeitschrift für Analytische Chemie Springer Verlag

Publisher: Springer-Verlag

Book Volume: 343

Pages Range: 765-768

DOI: 10.1007/BF00633562

Authors with CRIS profile

Lothar Frey Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente Heiner Ryssel Technische Fakultät

How to cite

APA:

Streckfusse, N., Frey, L., Zielonka, G., Kroninger, F., Ryzlewicz, C., & Ryssel, H. (1992). Analysis of trace metals on silicon surfaces. Fresenius Zeitschrift für Analytische Chemie, 343, 765-768. https://dx.doi.org/10.1007/BF00633562

MLA:

Streckfusse, N., et al. "Analysis of trace metals on silicon surfaces." Fresenius Zeitschrift für Analytische Chemie 343 (1992): 765-768.

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