Analysis of trace metals on silicon surfaces

Journal article
(Original article)


Publication Details

Author(s): Streckfusse N, Frey L, Zielonka G, Kroninger F, Ryzlewicz C, Ryssel H
Journal: Fresenius Zeitschrift für Analytische Chemie
Publisher: Springer-Verlag
Publication year: 1992
Volume: 343
Pages range: 765-768
ISSN: 0016-1152


FAU Authors / FAU Editors

Frey, Lothar Prof. Dr.
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Ryssel, Heiner Prof. Dr.
Technische Fakultät


How to cite

APA:
Streckfusse, N., Frey, L., Zielonka, G., Kroninger, F., Ryzlewicz, C., & Ryssel, H. (1992). Analysis of trace metals on silicon surfaces. Fresenius Zeitschrift für Analytische Chemie, 343, 765-768. https://dx.doi.org/10.1007/BF00633562

MLA:
Streckfusse, N., et al. "Analysis of trace metals on silicon surfaces." Fresenius Zeitschrift für Analytische Chemie 343 (1992): 765-768.

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