An Accurate Free Space Method for Material Characterization in W-Band Using Material Samples with Two Different Thicknesses

Beitrag bei einer Tagung
(Konferenzbeitrag)


Details zur Publikation

Autor(en): Lau I, Frank M, Shi K, Lurz F, Talai A, Weigel R, Kölpin A
Jahr der Veröffentlichung: 2018
Seitenbereich: 202-205
Sprache: Englisch


Abstract

This paper presents an accurate free space method for material characterization eliminating the problem
of the required precise orientation between the material and the antennas and expanding the unambiguous range for electrical thick samples. It includes theoretical considerations and measurement results of four different materials. Overall, a maximum measurement uncertainty of 0.0153 for the relative permittivity and 0.001 for the loss tangent in the W-band can be achieved. Depending on the variation of the material’s thickness, the implemented setup changes lead to an reduction of the measurement uncertainty of 8 to 58%.


FAU-Autoren / FAU-Herausgeber

Frank, Martin
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Lau, Isabella
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Lurz, Fabian
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Shi, Kilin
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Talai, Armin
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Weigel, Robert Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Technische Elektronik


Autor(en) der externen Einrichtung(en)
Brandenburgische Technische Universität Cottbus-Senftenberg (BTU)


Zitierweisen

APA:
Lau, I., Frank, M., Shi, K., Lurz, F., Talai, A., Weigel, R., & Kölpin, A. (2018). An Accurate Free Space Method for Material Characterization in W-Band Using Material Samples with Two Different Thicknesses. In Proceedings of the European Microwave Conference (EuMC) (pp. 202-205). Madrid, ES.

MLA:
Lau, Isabella, et al. "An Accurate Free Space Method for Material Characterization in W-Band Using Material Samples with Two Different Thicknesses." Proceedings of the European Microwave Conference (EuMC), Madrid 2018. 202-205.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-18-04 um 01:23