A Semi Double-Ridged quasi TE-Waveguide based Microwave Bulk Material Characterization System

Beitrag bei einer Tagung


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Talai A, Mann S, Steinhäußer F, Bittner A, Schmid U, Weigel R, Kölpin A
Verlag: IEEE
Jahr der Veröffentlichung: 2015
Seitenbereich: 1-4


Abstract


Accurate microwave material characterization is essential for reliable high frequency circuit design. Therefore, various characterization techniques have been developed, comprising advantages and drawbacks for the respective conditions. In this paper, a material characterization system is presented, which enables a broadband measurement for both dielectric loss and relative permittivity of bulk substrates with variant geometrical dimensions. A semi double-ridged waveguide is used to measure the introduced phase shift and dampening due to a strip of material, allowing a combined evaluation of the complex permittivity by measurement and simulation.



FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Kölpin, Alexander PD Dr.
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Mann, Sebastian
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Talai, Armin
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Weigel, Robert Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Technische Elektronik


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

Technische Universität Wien


Zitierweisen

APA:
Talai, A., Mann, S., Steinhäußer, F., Bittner, A., Schmid, U., Weigel, R., & Kölpin, A. (2015). A Semi Double-Ridged quasi TE-Waveguide based Microwave Bulk Material Characterization System. In Proceedings of the IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS) (pp. 1-4). Phoenix, CA, US: IEEE.

MLA:
Talai, Armin, et al. "A Semi Double-Ridged quasi TE-Waveguide based Microwave Bulk Material Characterization System." Proceedings of the IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), Phoenix, CA IEEE, 2015. 1-4.

BibTeX: 

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