Enhancement of the stability of Ti and Ni ohmic contacts to 4H-SiC with a stable protective coating for harsh environment applications

Beitrag in einer Fachzeitschrift
(Originalarbeit)


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Daves W, Krauss A, Haeublein V, Bauer AJ, Frey L
Zeitschrift: Journal of Electronic Materials
Jahr der Veröffentlichung: 2011
Band: 40
Heftnummer: 9
Seitenbereich: 1990-1997
ISSN: 0361-5235


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Frey, Lothar Prof. Dr.
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie (IISB)
Robert Bosch GmbH


Zitierweisen

APA:
Daves, W., Krauss, A., Haeublein, V., Bauer, A.J., & Frey, L. (2011). Enhancement of the stability of Ti and Ni ohmic contacts to 4H-SiC with a stable protective coating for harsh environment applications. Journal of Electronic Materials, 40(9), 1990-1997. https://dx.doi.org/10.1007/s11664-011-1681-2

MLA:
Daves, Walter, et al. "Enhancement of the stability of Ti and Ni ohmic contacts to 4H-SiC with a stable protective coating for harsh environment applications." Journal of Electronic Materials 40.9 (2011): 1990-1997.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2018-22-10 um 21:53