Line shape of near infrared DFB and VCSEL diode lasers under the influence of back reflections

Beitrag bei einer Tagung


Details zur Publikation

Autorinnen und Autoren: Lins B, Engelbrecht R, Zinn P, Buchtal R, Schmauß B
Jahr der Veröffentlichung: 2011
Tagungsband: 8th International Conference on Tunable Diode Laser Spectroscopy, TDLS 2011
Sprache: Englisch


FAU-Autorinnen und Autoren / FAU-Herausgeberinnen und Herausgeber

Engelbrecht, Rainer PD Dr.
Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
Lins, Bastian
Lehrstuhl für Technische Thermodynamik
Schmauß, Bernhard Prof. Dr.-Ing.
Professur für Hochfrequenztechnik mit dem Schwerpunkt Optische Hochfrequenztechnik und Photonik


Einrichtungen weiterer Autorinnen und Autoren

Drägerwerk AG & Co. KGaA


Zitierweisen

APA:
Lins, B., Engelbrecht, R., Zinn, P., Buchtal, R., & Schmauß, B. (2011). Line shape of near infrared DFB and VCSEL diode lasers under the influence of back reflections. In 8th International Conference on Tunable Diode Laser Spectroscopy, TDLS 2011. Zermatt, Switzerland, CH.

MLA:
Lins, Bastian, et al. "Line shape of near infrared DFB and VCSEL diode lasers under the influence of back reflections." Proceedings of the 8th International Conference on Tunable Diode Laser Spectroscopy, TDLS 2011, Zermatt, Switzerland 2011.

BibTeX: 

Zuletzt aktualisiert 2019-05-02 um 08:53