Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography

Conference contribution
(Conference Contribution)


Publication Details

Author(s): El Melegy A, Hausotte T, Mohammed Abu EWY, Mohammed Ahmed A, Weinert B, Klöpzig U
Publication year: 2016
Conference Proceedings Title: IEEE IST 2016 Conference Proceeding
Pages range: 261-266
Language: English


FAU Authors / FAU Editors

El Melegy, Ahmed
Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik
Hausotte, Tino Prof. Dr.-Ing.
Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik
Klöpzig, Ute
Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik
Weinert, Benedict
Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik


How to cite

APA:
El Melegy, A., Hausotte, T., Mohammed Abu, E.-W.Y., Mohammed Ahmed, A., Weinert, B., & Klöpzig, U. (2016). Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography. In IEEE IST 2016 Conference Proceeding (pp. 261-266). Chania, Kreta, GR.

MLA:
El Melegy, Ahmed, et al. "Large Range Self-Sensing Atomic Force Microscope (LR-SAFM) for Surface Topography." Proceedings of the IEEE International Conference on Imaging Systems & Techniques, Chania, Kreta 2016. 261-266.

BibTeX: 

Last updated on 2018-19-04 at 03:37