Electronic Journal of Statistics

Abkürzung der Fachzeitschrift: ELECTRON J STAT
ISSN: 1935-7524
Verlag: Institute of Mathematical Statistics (IMS): OAJ / Institute of Mathematical Statistics



Publikationen


Heftnummer: 2, Band: 12, Seitenbereich: 2873-2904
Goodness-of-fit tests for complete spatial randomness based on Minkowski functionals of binary images (2018)
Ebner B, Henze N, Klatt MA, et al.


Zuletzt aktualisiert 2014-11-12 um 07:04